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13所標準化動態

來源:質量處     作者:花吉珍     發布時間:2020年04月28日     瀏覽次數:         

深夜释放你自己草莓视频第十三研究所標準化工作動態

1、國際標準化

113所聯合牽頭提出的3IEC國際標準發布。2020114日國家標準化管理委員會官網發布了“關于公開2019年度我國牽頭及聯合牽頭制定國際電工委員會(IEC)國際標準情況的通知”,中國電科13所作為聯合牽頭單位提出并參與制定的下列3項國際標準發布實施:

   1IEC 62047-32:2019半導體器件 微電子機械器件 32部分:MEMS諧振器的非線性振動測試方法

2IEC 62047-33:2019半導體器件 微電子機械器件 33部分:MEMS壓阻式壓力敏感器件

3IEC 62047-34:2019半導體器件 微電子機械器件 34部分:MEMS壓阻式壓力敏感器件圓片級試驗方法

3項標準的發布,是繼我國于2016年在MEMS器件領域首次牽頭提出制定的1項標準發布后的又一次重大突破,及時將MEMS器件測試方法的研究成果制定為國際標準,體現了我國在MEMS領域的技術實力。

2)牽頭提出的4IEC國際標準進展順利。

  經過20196月在蘇州召開的工作組會議和10月上海IEC大會的推進, 又有3項新提案成功立項,國際標準在研項目總數達到4項。IEC 63229  半導體器件 碳化硅襯底氮化鎵外延膜缺陷分類已進入CDV階段,IEC中央辦公室正在進行法文翻譯,計劃5月初分發。IEC 60747-16-7 半導體器件 16-7部分:微波集成電路 衰減器、IEC 60747-16-8 半導體器件 16-8部分:微波集成電路 限幅器和IEC 62047-41半導體器件 微電子機械器件 41部分:RF MEMS環行器和隔離器三項提案處于CD階段,委員會草案(CD)均已分發,正在征求各國意見,5月底前完成,準備在6月召開的工作組會議上討論。

這四項國際標準是我所牽頭提出的首批提案,開啟了我所主持制定國際標準的新篇章,體現了我國在半導體器件領域的技術實力,掌握了相關領域的話語權,為后續國際標準的制定奠定了基礎。

2、國家標準制定

  • 113所主持編制的三項國家標準提前完成報批

2020313所主持編制的三項國家標準《電子元器件 半導體器件長期貯存 第2部分:失效機理電子元器件(計劃號20182267-T-339)、《半導體器件長期貯存第5部分:芯片和晶圓》(計劃號20182266-T-339)、《微波集成電路 檢波器測試方法(計劃號20182277-T-339)提前一年完成報批。電子元器件 半導體器件長期貯存 第2部分:失效機理電子元器件和《半導體器件長期貯存第5部分:芯片和晶圓》為等同采用IEC標準,是電子元器件 半導體器件長期貯存系列標準,通過該系列標準的制定,可確定電子元器件長期貯存需要的環境條件和可能導致的失效模式,評價長期貯存電子元器件的可靠性,對電子元器件的研究、生產、包裝、檢驗和使用具有重要意義,同時補充完善電子元器件標準體系,為電子元器件行業的發展起到指導作用。

2)國家標準化管理委員會下達推薦性國家標準制修訂項目計劃,由13所主持6項國家標準制修訂項目。根據國標委發【20206號《關于下達2020年推薦性國際標準計劃(修訂)的通知》和國標委發【202014號《關于下達2020年第一批推薦性國家標準制修訂計劃的通知》,由13所主持GB/T 20230-2006《磷化銦單晶》和GB/T 4587-1994 《半導體器件 7部分:雙極型晶體管》2項國家標準的修訂任務,以及《半導體器件 機械和氣候試驗方法 42部分:溫濕度貯存》、《半導體器件錫和錫合金表面涂覆的錫須影響的環境接收要求》、《半導體器件 機械和氣候試驗方法 16部分:粒子碰撞噪聲檢測(PIND)》和《半導體器件 16-5部分:微波集成電路 振蕩器》4項國家標準采標項目。13所將充分調研和征求領域內相關單位的意見,組織完成好上述標準的制修訂任務,發揮好行業骨干單位的作用,體現國企的責任和擔當。

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1、國際標準化

113所聯合牽頭提出的3IEC國際標準發布。2020114日國家標準化管理委員會官網發布了“關于公開2019年度我國牽頭及聯合牽頭制定國際電工委員會(IEC)國際標準情況的通知”,中國電科13所作為聯合牽頭單位提出并參與制定的下列3項國際標準發布實施:

   1IEC 62047-32:2019半導體器件 微電子機械器件 32部分:MEMS諧振器的非線性振動測試方法

2IEC 62047-33:2019半導體器件 微電子機械器件 33部分:MEMS壓阻式壓力敏感器件

3IEC 62047-34:2019半導體器件 微電子機械器件 34部分:MEMS壓阻式壓力敏感器件圓片級試驗方法

3項標準的發布,是繼我國于2016年在MEMS器件領域首次牽頭提出制定的1項標準發布后的又一次重大突破,及時將MEMS器件測試方法的研究成果制定為國際標準,體現了我國在MEMS領域的技術實力。

2)牽頭提出的4IEC國際標準進展順利。

  經過20196月在蘇州召開的工作組會議和10月上海IEC大會的推進, 又有3項新提案成功立項,國際標準在研項目總數達到4項。IEC 63229  半導體器件 碳化硅襯底氮化鎵外延膜缺陷分類已進入CDV階段,IEC中央辦公室正在進行法文翻譯,計劃5月初分發。IEC 60747-16-7 半導體器件 16-7部分:微波集成電路 衰減器、IEC 60747-16-8 半導體器件 16-8部分:微波集成電路 限幅器和IEC 62047-41半導體器件 微電子機械器件 41部分:RF MEMS環行器和隔離器三項提案處于CD階段,委員會草案(CD)均已分發,正在征求各國意見,5月底前完成,準備在6月召開的工作組會議上討論。

這四項國際標準是我所牽頭提出的首批提案,開啟了我所主持制定國際標準的新篇章,體現了我國在半導體器件領域的技術實力,掌握了相關領域的話語權,為后續國際標準的制定奠定了基礎。

2、國家標準制定

  • 113所主持編制的三項國家標準提前完成報批

2020313所主持編制的三項國家標準《電子元器件 半導體器件長期貯存 第2部分:失效機理電子元器件(計劃號20182267-T-339)、《半導體器件長期貯存第5部分:芯片和晶圓》(計劃號20182266-T-339)、《微波集成電路 檢波器測試方法(計劃號20182277-T-339)提前一年完成報批。電子元器件 半導體器件長期貯存 第2部分:失效機理電子元器件和《半導體器件長期貯存第5部分:芯片和晶圓》為等同采用IEC標準,是電子元器件 半導體器件長期貯存系列標準,通過該系列標準的制定,可確定電子元器件長期貯存需要的環境條件和可能導致的失效模式,評價長期貯存電子元器件的可靠性,對電子元器件的研究、生產、包裝、檢驗和使用具有重要意義,同時補充完善電子元器件標準體系,為電子元器件行業的發展起到指導作用。

2)國家標準化管理委員會下達推薦性國家標準制修訂項目計劃,由13所主持6項國家標準制修訂項目。根據國標委發【20206號《關于下達2020年推薦性國際標準計劃(修訂)的通知》和國標委發【202014號《關于下達2020年第一批推薦性國家標準制修訂計劃的通知》,由13所主持GB/T 20230-2006《磷化銦單晶》和GB/T 4587-1994 《半導體器件 7部分:雙極型晶體管》2項國家標準的修訂任務,以及《半導體器件 機械和氣候試驗方法 42部分:溫濕度貯存》、《半導體器件錫和錫合金表面涂覆的錫須影響的環境接收要求》、《半導體器件 機械和氣候試驗方法 16部分:粒子碰撞噪聲檢測(PIND)》和《半導體器件 16-5部分:微波集成電路 振蕩器》4項國家標準采標項目。13所將充分調研和征求領域內相關單位的意見,組織完成好上述標準的制修訂任務,發揮好行業骨干單位的作用,體現國企的責任和擔當。

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